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Universitat Autònoma de Barcelona
Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X

TEM Jeol 2011 (200kV)

El TEM Jeol 2011 es un microscopio electrónico de alta resolución con un voltaje de aceleración de 200 kV. Este microscopio está equipado con una cámara CMOS que permite la captación de imagen a alta velocidad en modo campo claro. Además, el TEM Jeol 2011 permite obtener información composicional y cristalográfica de las muestras gracias al modo de difracción de electrones y alta resolución. Este equipo está adaptado para la observación de muestras criogenizadas en estado nativo. 

Información complementaria

TEM Jeol 2011