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Universitat Autònoma de Barcelona
Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X

Sistema de contraste de rejillas Leica EM AC20

Equipo de contraste automático para cortes ultrafinos con acetato de uranio y citrato de plomo para la observación con microscopía electrónica de transmisión.

Información complementaria

Sistema de contraste de rejillas Leica EM AC20