SEM Zeiss Merlin

El SEM Zeiss Merlin es un microscopio de alta resolución de emisión de campo con capacidad analítica que permite la obtención de información topográfica y analítica. El equipo puede ser utilizado para una amplia gama de aplicaciones gracias a la colección de detectores disponibles. Estos consisten en: detector de electrones secundarios (SE), detector In-lens (para imágenes a escala de nanómetros y micrómetros), un detector de electrones retrodispersados In-lens ESB y detector de selección de ángulo (ASB) (para imágenes de contraste de materiales). El Merlin también permite realizar medidas analíticas, como espectroscopia de energía dispersiva de rayos X (EDS) y difracción de electrones retrodispersados (EBSD).

Este equipo ha sido cofinanciado en un 50% por el Fondo de Desarrollo Regional en el marco operativo FEDER de Cataluña 2007-2013.