Accede al contenido principal
Idioma seleccionado:
Español
Català
Despliega el formulario de búsqueda
Búsqueda en la web
Ir
Universitat Autònoma de Barcelona
Servicio de Microscopía y Difracción de Rayos X
Menú
Conoce el servicio
Servicios
Equipamiento
Reservas
Actualidad
Inicio
Equipamiento
Equipamiento
Filtra los cursos por tipo:
Análisis de Imagen
Difracción de Rayos X
Microscopía Electrónica
Microscopía Óptica
Perfilometría
Preparación Muestras
Ultramicrotomía
Actualiza
Pulverizador catódico de carbono Denton Vaccum Desk V
Preparación Muestras
SEM Hitachi S-570
Microscopía Electrónica
SEM Zeiss EVO
Microscopía Electrónica
SEM Zeiss Merlin
Microscopía Electrónica
Sistema de congelación e inclusión Leica EM AFS
Preparación Muestras
Sistema de contraste de rejillas Leica EM AC20
Preparación Muestras
Sistema de descarga PELCO easyGlow
Preparación Muestras
Sistema de punto crítico Baltec CPD030
Preparación Muestras
Página anterior
Pagina
1
Pagina
2
Página actual
3
Pagina
4
Página siguiente
Mapa de la web
Inicio
Conoce el servicio
Conoce el servicio (visión general)
Personal
Contacto y horario
Tarifas
Política de Calidad y Protección de Datos
Normativa
Sugerencias y reclamaciones
Servicios
Servicios (visión general)
Microscopía Electrónica (EM)
Preparación de Muestras (SP)
Microscopia Óptica (OM)
Perfilometría
Difracción de Rayos X (DRX)
Soporte a la docencia
Divulgación
Equipamiento
Reservas
Actualidad
