Vés al contingut principal
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X

TEM Jeol 2011 (200kV)

El TEM Jeol 2011 és un microscopi electrònic d’alta resolució amb un voltatge d’acceleració de 200 kV. Aquest microscopi està equipat amb una càmera CMOS que permet la captació d’imatge a alta velocitat en mode camp clar. A més, el TEM Jeol 2011 permet obtenir informació composicional i cristal·logràfica de les mostres gràcies al mode de difracció d’electrons i l’alta resolució. Aquest equip està adaptat per a l’observació de mostres criogenitzades en estat natiu. 

Informació complementària

TEM Jeol