Vés al contingut principal
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X

Sistema de punt crític Baltec CPD030

Aquest dispositiu permet dipositar recobriments de carboni per aplicacions analítiques per a microscòpia electrònica de escaneig. 

Informació complementària

Sistema de punt crític Baltec CPD030