Perfilometria

L’SM disposa d’un perfilòmetre òptic i un de mecànic, oferint així un ampli rang de resolucions per a l’anàlisi de superfícies. 

• Estudis topogràfics tridimensionals amb una resolució de mm a nm gràcies a la combinació d’imatges confocals amb la interferometria. 
• Estudis perfilomètrics de superfície amb resolució nanomètrica. 

El personal de l’àrea també dona assessorament tècnic per a optimitzar i/o dissenyar experiments així com per a desenvolupar noves aplicacions. També ofereix entrenament als usuaris que vulguin utilitzar l’equipament en règim d’autoservei.