Microscòpia Electrònica de Transmissió
![Imatge de la pantalla de fòsfor del microscopi on s'hi pot observar una cèl·lula](https://www.uab.cat/ca/servei-microscopia/img/imatge-pantalla-fosfor-del-microscopi-shi-pot-observar-cellula/tem1400-pantallafosfor1-reduida.png)
![Observació per TEM convencional](https://www.uab.cat/ca/servei-microscopia/img/observacio-tem-convencional/sm_tem1.png)
Són les imatges més comunes de microscòpia electrònica de transmissió. Les àrees que interaccionen (absorció o dispersió) amb el feix d’electrons apareixen fosques, mentre que les zones que deixen transmetre els electrons apareixen clares.
![CrioTEM](https://www.uab.cat/ca/servei-microscopia/img/criotem/sm_serveisemcriotem.png)
Permet l’observació de mostres biològiques i materials orgànics en el seu estat natiu. La mostra es vitrifica prèviament generant un film de gel amorf que protegeix i evita la formació d’artefactes en la mostra degut a la interacció del feix i el buit del microscopi.
![Tincions](https://www.uab.cat/ca/servei-microscopia/img/tincions/sm_serveistincions.png)
Tècnica d'ombrejat de les mostres que consisteix en l'aplicació de metalls pesants per tal de generar contrast en mostres que, per la seva naturalesa, no en tenen.
![HRTEM](https://www.uab.cat/ca/servei-microscopia/img/hrtem/smserveishrtem.png)
La microscòpia electrònica de transmissió d’alta resolució (HRTEM) és una tècnica d’imatge de contrast de fases que permet obtenir imatges amb resolució atòmica. La difracció d’electrons és una tècnica similar a difracció de raigs X. La interferència constructiva del feix d’electrons amb els diferents plans atòmics de mostres cristal·lines resulta en la formació d’un patró de punts/cercles concèntrics, anomenat patró de difracció.
Les imatges d’alta resolució i els patrons de difracció donen informació sobre la cristal·linitat de la mostra i permeten identificar les fases cristal·lines i l’orientació.
![microanalisi](https://www.uab.cat/ca/servei-microscopia/img/microanalisi/sm_serveismicroanalisi.jpg)
Es tracta d’una tècnica analítica semiquantitativa que permet obtenir informació elemental de la mostra. Aquesta tècnica està basada en la detecció dels raig X generats per la interacció del feix d’electrons amb la mostra.