Vés al contingut principal
Idioma seleccionat:
Català
Español
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi Imatge
Difracció de Raigs X
Microscòpia Electrònica
Microscòpia Òptica
Perfilometria
Preparació Mostres
Ultramicrotomia
Actualitza
Perfilòmetre mecànic KLA Tencor P-15
Perfilometria
Perfilòmetre òptic Leica DCM 3D
Perfilometria
Polidora Struers LaboPol 25
Preparació Mostres
Polidora còncava GATAN 656 Dimple Grinder
Preparació Mostres
Polvoritzador catòdic de Carboni Denton Vaccum Desk V
Preparació Mostres
SEM Hitachi S-570
Microscòpia Electrònica
SEM Zeiss EVO
Microscòpia Electrònica
SEM Zeiss Merlin
Microscòpia Electrònica
Pàgina anterior
Pàgina
1
Pàgina
2
Pàgina actual
3
Pàgina
4
Pàgina
5
Pàgina siguiente
Mapa del web
Inici
Coneix el servei
Coneix el servei (visió general)
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica (EM)
Preparació de Mostres (SP)
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Difracció de Raigs X (DRX)
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat
