Vés al contingut principal
Idioma seleccionat:
Català
Español
Desplega el formulari de cerca
Cerca al web
Vés
Universitat Autònoma de Barcelona
Servei de Microscòpia i Difracció de Raigs X
Menú
Coneix el servei
Serveis
Equipament
Reserves
Actualitat
Inici
Equipament
Equipament
Filtra els cursos per tipus:
Anàlisi Imatge
Difracció de Raigs X
Microscòpia Electrònica
Microscòpia Òptica
Perfilometria
Preparació Mostres
Ultramicrotomia
Actualitza
IMARIS 9.5
Anàlisi Imatge
ImageJ/Fiji
Anàlisi Imatge
LAS AF
Anàlisi Imatge
Lupa estereoscòpica Leica MZFLIII
Microscòpia Òptica
Metal·litzador catòdic de C Emitech K550X/K250
Preparació Mostres
Metal·litzador d'Au Emitech K550X
Preparació Mostres
Microscopi òptic Nikon Eclipse LV150
Microscòpia Òptica
PANanalytical X'Pert Powder
Difracció de Raigs X
Pàgina anterior
Pàgina
1
Pàgina actual
2
Pàgina
3
Hi ha més pàgines
...
Pàgina
5
Pàgina siguiente
Mapa del web
Inici
Coneix el servei
Coneix el servei (visió general)
Personal
Contacte i horari
Tarifes
Política de Qualitat i Protecció de Dades
Normativa
Suggeriments i reclamacions
Serveis
Serveis (visió general)
Microscòpia Electrònica (EM)
Preparació de Mostres (SP)
Microscòpia Òptica (OM)
Perfilometria
Difracció de Raigs X (DRX)
Suport a la docència
Divulgació
Equipament
Reserves
Actualitat
