Difracció de Raigs X (DRX)
La difracció de raigs X és una tècnica de laboratori bàsica per obtenir informació sobre la cristal·linitat i l'estructura cristal·lina dels sòlids. És una de les tècniques amb més prestigi dins la comunitat científica per a la seva gran precisió.
La tècnica es basa en fer incidir un feix de raigs X sobre la mostra, generant feixos difractats que es captaran amb un detector de raigs X, registrant-ne a més la intensitat, que depèn de l'angle en què són desviats per la mostra. La difracció i intensitat d'aquests feixos difractats conté informació sobre l'estructura cristal·lina de la mostra, fet que permet determinar les fases cristal·lines presnets i la microestructura, és a dir, la mida i orientació dels cristalls de la mostra.
També és possible determinar l'estructura cristal·lina en cas de no conèixer-se o, analitzant la radiació difusa, obtenir informació sobre la presència de fases amorfes o la mida d'objectes nanomètrics.
És possible treballar amb monocristalls o amb pols microcristal·lina, aconseguint-se diferents dades en ambdós casos.
Serveis
